KOSAKA 臺(tái)階儀 | 薄膜測厚儀 | 微細(xì)形狀測定機(jī)
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質(zhì)朋儀器貿(mào)易（上海）有限公司
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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)ET4000系列
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時(shí)間：2023-06-11 11:38:03瀏覽次數(shù)：247次
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臺(tái)階儀/膜厚儀ET4000系列產(chǎn)品參數(shù)
| 試片尺寸 | 210×210mm~300×400mm |
|---|---|
| 重現(xiàn)性 | 1σ 0.5nm以內(nèi) |
| 測定范圍 | Z:100um X:100～305mm (Y移動(dòng)量:150~400mm) |
| 分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
| 測定力 | 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg) |
臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺(tái)階儀測量薄膜厚度,臺(tái)階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高精度，高重復(fù)性，自動(dòng)探索樣品表面
更多進(jìn)口臺(tái)階儀測量儀器產(chǎn)品功能和報(bào)價(jià)問題，您可在線咨詢或給我們來電： ，質(zhì)朋儀器貿(mào)易上海有限公司將時(shí)間回復(fù)您。
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