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蔡司EVO系列掃描電子顯微鏡

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更新時間：2023-07-19 10:46:26瀏覽次數(shù)：271次

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產(chǎn)品簡介

蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列　　模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應(yīng)用　　EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起，同時能夠吸引

詳細(xì)介紹

商品詳情

　　蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列

　　模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應(yīng)用

　　EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起，同時能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)，材料科學(xué)，或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。

　　顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案

　　不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品

　　使用LaB6燈絲，能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量

　　對不導(dǎo)電和無導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色

　　可以配置多種分析探測器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求

便捷的可用性

　　SmartSEM Touch可以通過使用您的指尖與其進(jìn)行交互式工作流程控制。它簡單易學(xué)，大大減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本，甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動化工作流程以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。

優(yōu)異的圖像質(zhì)量

　　EVO 擅長于對未經(jīng)處理和沒有導(dǎo)電涂層的樣品獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài)，維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當(dāng)成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時，選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、對比度和信噪比。

EVO can be configured to be part of a semi-automated multi-modal workflow

EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

　　EVO可以作為半自動、多模式工作流程的一部分，通過重新定位感興趣區(qū)域，并以多種方式收集數(shù)據(jù)，形成信息的完整性。將光學(xué)和電子顯微鏡圖像合并起來進(jìn)行材料表征或零件檢驗(yàn)，或者將 EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡相關(guān)聯(lián)，進(jìn)行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。

EVO 系列

真空室尺寸選擇

	蔡司EVO 10	蔡司EVO 15	蔡司EVO 25
	選擇 EVO 10（可選配BSD和EDS）是您想以一個非常實(shí)惠的價格購買掃描電子顯微鏡的切入點(diǎn)。即使這個EVO真空室很小，它也不同于臺式電鏡。您現(xiàn)在在 EVO 的投資保證了您已經(jīng)為將來需要更多空間和端口的應(yīng)用做好了準(zhǔn)備。	EVO 15 充分展示了 EVO 家族的靈活性概念，并擅長于分析應(yīng)用。選擇 EVO 15 更大的真空室，并增加對不導(dǎo)電樣品或零件的成像和分析的可變壓力模式，你將有一個多功能多用途的顯微鏡設(shè)備或者工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的解決方案。	EVO25 是工業(yè)的主力解決方案，它有足夠的空間以容納甚至更大的部件和組件?？蛇x的 80 mm Z 軸行程載物臺可進(jìn)一步擴(kuò)展 EVO 25的功能，它可以處理重量高達(dá)2公斤的樣品甚至傾斜。此外，大的真空室將能夠容納多個分析檢測器以滿足苛刻的微量分析應(yīng)用需求。
樣品高度	100 mm	145 mm	210 mm
樣品直徑	230 mm	250 mm	300 mm
電動載物臺行程XYZ	80 x 100 x 35 mm	125 x 125 x 50 mm	130 x 130 x 50 (或 80) mm
高真空模式 (HV) 導(dǎo)電樣品質(zhì)量的成像與分析
可變壓力模式 (VP) 不導(dǎo)電且不噴涂導(dǎo)電層樣品的高質(zhì)量成像和分析
擴(kuò)展壓力模式 (EP) 含水或被污染的樣品在其自然狀態(tài)下成像

　　適合更多用戶操作

　　對于經(jīng)驗(yàn)豐富的以及新手用戶操作都很方便

　　在實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，SEM 的操作通常是顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。但是對于非專家級用戶來說，操作SEM就變得具有挑戰(zhàn)，比如學(xué)生、受訓(xùn)者或質(zhì)量工程師，他們往往也需要從 SEM獲取數(shù)據(jù)。 EVO 則同時考慮了這兩類用戶的需求，用戶界面選項(xiàng)既能滿足有經(jīng)驗(yàn)的顯微鏡專家也能滿足非專業(yè)用戶的操作需要。