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電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ICP-MS 2000系列天瑞質(zhì)譜ICP-MS

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產(chǎn)品簡介

電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(簡稱ICP-MS），是20世紀80年代發(fā)展起來的一種新的微量（10-6）、痕量（10-9）和超痕量（10-12）元素分析技術(shù)

詳細介紹

電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 (簡稱ICP-MS），是20世紀80年代發(fā)展起來的一種新的微量（10-6）、痕量（10-9）和超痕量（10-12）元素分析技術(shù)。ICP-MS可測定元素周期表中大部分元素，且具有極低的檢出限、極寬的動態(tài)線性范圍、譜線簡單、干擾少、度高、分析速度快等性能優(yōu)勢。

ICP-MS2000系列是公司自主研發(fā)產(chǎn)品，目前有ICP-MS2000、ICP-MS2000B、ICP-MS2000E三款型號。ICP-MS2000系列儀器各項性能均優(yōu)于規(guī)范，滿足不同行業(yè)用戶應用需求，高；目前該產(chǎn)品主要應用于環(huán)境、食品、半導體、醫(yī)藥及生理分析、核工業(yè)領域等。

ICP-MS2000系列具有的儀器性能，高效的分析效果。儀器日常運行消耗器材均自主研發(fā)，高。同時我們提供售后服務，10分鐘響應、48小時內(nèi)、客服中心隨時跟蹤服務、保證服務質(zhì)量。

1. ICP-MS 2000B性能特點
穩(wěn)健的固態(tài)電源保證儀器可運行多種模式（如常規(guī)模式、冷等離子體模式），并且在同一方法中允許運行多種模式，節(jié)約大量分析時間及方便研究。
的等離子體屏蔽技術(shù)，極大提高儀器的靈敏度，改善低質(zhì)量元素的檢出限。保證冷等離子體模式等應用，無需使用碰撞/反應氣，即可使K、Na、Ca、Mg、Fe等易電離元素檢出限低至ng.L-1。

2.ICP-MS 2000E性能特點
變頻等離子體，采用推挽互補技術(shù)消除傳統(tǒng)等離子體中存在的電勢差，消除等離子體二次放電現(xiàn)象，并產(chǎn)生較低、較窄的離子能量擴散，極大提高儀器靈敏度。穩(wěn)健的變頻電源系統(tǒng)保證儀器可運行多種模式（如常規(guī)模式、碰撞反應模式、冷等離子體模式），并且在同一方法中允許運行多種模式，節(jié)約大量分析時間及方便研究。
配置六極桿碰撞反應池，采用（H2+He）混合氣既可以KED模式消除ArCl、CaCl對As的干擾；同時在無需切換氣體等繁瑣操作的情況下即可消除Ar、ArH、ArO等對K、Ca、Fe的干擾。
配置250位全自動進樣器，以太通信進口，定位精度小于500μm。

ICP-2000系列電感耦合等離子體質(zhì)譜儀同樣均具有以下優(yōu)異的性能及特點：
等離子體位置XYZ三維由計算機控制全自動調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)幅度至步進0.1mm；
炬管為一體式石英同心炬管，避免拆卸式矩管的繁瑣操作以及可能由此導致的損壞；
敞開式進樣系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，插入式安裝，自我定位，維護方便；
高穩(wěn)定性和度的帶撞擊球玻璃霧化室，霧化室標配半導體制冷，對霧化室制冷控溫范圍為-20℃-20℃，制冷迅速可在三分鐘內(nèi)由室溫降至2℃，以適應不同基體的控溫要求；
接口室由采樣錐、截取錐兩部分組成。標準配置包含采樣錐（錐孔1.1mm），和具有耐鹽性能的截取錐（錐孔0.75mm）；另可根據(jù)用戶實際需求選配高靈敏度截取錐；
的活動接口門結(jié)構(gòu)，無需泄真空即可裝卸采樣錐和截取錐，維護方便；
配置六極桿離子導向系統(tǒng)，在全質(zhì)量范圍內(nèi)獲得的離子傳輸效率；由計算機控制全自動離子聚焦調(diào)諧過程。真空室內(nèi)的透鏡采用非對稱安裝，方便拆裝定位；
離子透鏡包括提取透鏡和偏轉(zhuǎn)透鏡，采用二次離軸設計，避免中性粒子和電子進入質(zhì)量分析器，降低背景；離子透鏡、六級桿和四級桿均為免拆洗維護設計，極大地減少維護工作量；
使用進口、超長的純鉬四級桿，為儀器提供的靈敏度及分辨率；
長壽命ETP雙模式檢測器，分成兩部分分列打拿極電子倍增器，由計算機控制自動進行數(shù)/模切換；
友好的人機交互界面，符合國人使用習慣的全中文軟件。提供自動控制儀器及其附件的能力，適應Windows 2000/XP/vista/win7(32位或64位)操作系統(tǒng)；
全自動分析功能（啟動關閉儀器，炬位調(diào)整，等離子體參數(shù)，離子透鏡參數(shù)，檢測器參數(shù)等）。