| | |
FNF探頭 用于測量可導電的鐵磁性和非鐵磁性基體上的涂層、粉末層、塑料層、瓷釉以及其它非導電涂層厚度。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-1500μm (1.5mm) 測量精度:±(0.015 + 1)μm 測量區(qū)域的直徑:6mm 最小基板直徑:凸面/凹面 Φ4mm/Φ12mm 尺寸:Φ21×90mm | F0探頭 用于測量小尺寸部件(小曲率半徑)上的電鍍層(鋅、鉻、鎘等)和絕緣層(塑料、涂漆等),以及鐵磁性材料上難以觸及的部位。 技術(shù)特性: 測量范圍: 0-300μm (0.3mm) 測量精度:±(0.02+1) μm 測量區(qū)域的直徑:Φ3mm 基板的最小直徑:Φ4.5mm (Φ1 mm) 尺寸:Φ9 ×34 mm 注:筆型探針;固定測量系統(tǒng);測量區(qū)域的最小直徑不受涂層電導率的影響。 | F0/90探頭 筆式90度探頭,適用于小直徑管道內(nèi)表面涂鍍層,可插入最小管道直徑12mm??蓽y量小尺寸部件(小曲率半徑)上的電鍍層(鋅、鉻、鎘等)和非導電涂層(塑料、油漆等),以及鐵磁性材料上難以觸及部位的涂鍍層。 技術(shù)特性: 測量范圍: 0-300μm (0.3mm) 測量精度:±(0.02+1) μm 測量區(qū)域的直徑:Φ3mm 基板的最小直徑:Φ4.5mm (Φ1 mm) 尺寸:Φ20×127 mm 注:帶固定測量系統(tǒng)的筆式探頭,僅需極小的測量區(qū)域,消除了涂層電導率因素的影響。 |
| | |
F1探頭 用于測量鐵磁性材料制成的小尺寸部件上的電鍍層(鋅、鉻、鎘等)和絕緣涂層(塑料、油漆等),金屬涂層尤為合適。 技術(shù)特性: 測量范圍: 0-500μm (0.5mm) 測量精度:±(0.02+1) μm 測量區(qū)域的直徑:Φ4mm 基板的最小直徑:Φ4.5mm (Φ1 mm) 尺寸:Φ9 ×65 mm 注:配備彈簧測量系統(tǒng)的耐磨探頭,用于控制電鍍涂層,不受涂層電導率的影響。 | F2探頭 用于測量鐵磁性材料上的非導電涂層(涂層、粉末涂層、陽極氧化涂層等)以及可導電的非鐵磁性涂層(鋅、鉻等)。測量范圍高達2毫米。 技術(shù)特性: 測量范圍: 0-2000μm (2mm) 測量精度:±0.02 μm 測量區(qū)域的直徑:Φ6mm 基板的最小直徑:Φ9mm (Φ1.5 mm) 尺寸:Φ19 ×83 mm 注:配備彈簧測量系統(tǒng)的探頭。使用硬質(zhì)金屬材料做為探頭前端,防止探頭磨損。 | F3探頭 用于測量鐵磁性材料上的非導電涂層(涂層、粉末涂層、陽極氧化涂層等)以及可導電的非鐵磁性涂層(鋅、鉻等)。測量范圍高達6毫米。 技術(shù)特性: 測量范圍: 0-6000μm(6mm) 測量精度:±0.02μm 測量區(qū)域的直徑:Φ8mm 基板的最小直徑:Φ10.5mm (Φ2.5 mm) 尺寸:Φ19 ×83 mm 注:帶有彈簧測量系統(tǒng)的探頭用于厚涂層測量。 |
| | |
F4探頭 在粗糙的鋼基材表面測量瀝青、塑料、金屬箔、 耐火材料和其它非鐵磁性涂層(包括特殊設計的涂層)厚度。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-8mm 測量精度:0-6 mm:≤±(0.015 + 0.01)mm; 6-8mm:≤±0.02 最小基板直徑:內(nèi)/外直徑 Φ5mm/Φ18.5mm 測量區(qū)域的直徑: 12mm 尺寸: Φ15×49mm | F5探頭 在粗糙的鋼基材表面測量瀝青、塑料、金屬箔、 耐火材料和其它非鐵磁性涂層 (包括特殊設計的涂層)厚度。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-10mm 測量精度:0-8 mm:≤±(0.015 + 0.01)mm; 8-10mm:≤±0.02 最小基板直徑:內(nèi)/外直徑 Φ7/Φ57mm 測量區(qū)域的直徑:17mm 尺寸:Φ23×58mm | NF0探頭 用于測量可導電非鐵磁性材料制成的工件上的非導電涂層(涂層、粉末涂層、陽極氧化涂層等)以及可導電的非鐵磁性涂層(錫、鋅等)。 測量范圍高達0.5毫米。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-500μm(0.5mm) 測量精度:±(0.02+1) μm 測量區(qū)域的直徑:Φ1.5mm 尺寸:Φ6 ×35mm 注:探頭與彈簧測量系統(tǒng)相結(jié)合,現(xiàn)代材料的使用確保了探頭的高強度和鋼性。 |
| | |
NF1探頭 用于測量導電非鐵磁性材料制成的工件上的非導電涂層(涂層、粉末涂層、陽極氧化涂層等)以及可導電的非鐵磁性涂層(錫、鋅等)。 測量范圍高達2毫米。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-2000μm(2mm) 測量精度:±0.02 μm 測量區(qū)域的直徑:Φ4.7mm 尺寸:Φ6 ×35mm 注:探頭與彈簧測量系統(tǒng)相結(jié)合,現(xiàn)代材料的使用確保了探頭的高強度和鋼性。 | NF2探頭 用于測量金屬基體上較厚的非導電涂層。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-15000μm(15mm) 測量精度:±0.02 μm 測量區(qū)域的直徑:Φ20mm 基板的最小直徑:Φ12mm (Φ5 mm) 尺寸:Φ15 ×85mm | NF3探頭 用于測量金屬基體上較厚的非導電涂層。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-30mm 測量精度:±0.02 μm 測量區(qū)域的直徑:Φ40mm 基板的最小直徑:Φ45mm(Φ15mm) 尺寸:Φ23 ×88mm |
| | |
NF4探頭 用于測量金屬基體上較厚的非導電涂層。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-70mm 測量精度:0-40mm: ≤(1% ± 0.1);40-70mm: 2% 測量區(qū)域的直徑:Φ80mm 基板的最小直徑:Φ150mm(Φ50mm) 尺寸:Φ45 ×50mm 注:探頭與彈簧測量系統(tǒng)相結(jié)合?,F(xiàn)場作業(yè)環(huán)境下耐受高溫,顯示穩(wěn)定。 | PH1探頭 用于測量鋼基體上的電解鎳、鋅和其他電鍍涂層。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-120μm 測量精度:≤±(0.03 + 1) μm 測量區(qū)域的直徑:Φ4.7mm 基板的最小直徑:Φ1mm 尺寸:Φ12×40mm 注:可檢測非導電涂層下的電鍍涂層。 | PH3探頭 用于測量鋼基體上的電鍍涂層(鋅、鉻、鎳、銅、鎘等)。 技術(shù)特性: 技術(shù)特性:PH3-0,2 || PH3-1,8 測量范圍:0-120μm || 40 μm 測量精度:≤±(0.03 + 1) || ≤±(0.03 + 1) μm 測量區(qū)域的直徑:Φ1 mm ||Φ1mm 基板的最小直徑:Φ1 mm ||Φ75mm 尺寸:Φ6×50mm ||Φ6×50mm 注:可檢測非導電涂層下的電鍍涂層。 |
| | |
FR1探頭 用于測量混凝土中的加強筋的深度與位置。 技術(shù)特性: 測量范圍:0-70 mm 測量精度:≤±(0.05+ 0.1) mm 鋼筋的直徑:Φ3-40 mm 混凝土尺寸:100×30×50mm 注:適用混凝土厚度與鋼筋直徑較寬范圍的情況。 | FR2探頭 用于測量鐵磁性基體上的較厚(厚達120 mm)保護涂層。 技術(shù)特性: 測量范圍:1-120 mm 測量精度:≤±(0.05 + 0.1) mm 尺寸:180×30×50mm | R探頭 用于涂漆之前噴砂之后的粗糙度測量。 技術(shù)特性: 測量范圍:3-300 μ m 測量精度: ≤± 0.02 Rz 尺寸:Φ12×45mm |
| THD探頭 用于涂漆過程中的空氣溫度、濕度和露點測量。 技術(shù)特性: 1、測量范圍: 空氣溫度:-10°C – +40°C 空氣濕度:5-90% 露點溫度:-15°C – 40°C 2、測量精度: 空氣溫度:±1°C 空氣濕度:≤±5% 露點溫度:≤±2°C 尺寸:Φ15×120 mm 注:寬測量區(qū)間的集成式探頭。 |