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NEW 阻抗分析儀ZA57630

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產(chǎn)品型號(hào)ZA57630

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NF 回路設(shè)計(jì)

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東莞市力高大同自動(dòng)化設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

簡(jiǎn)　　述：從電子零件、半導(dǎo)體器件到材料的特性評(píng)價(jià)，應(yīng)對(duì)多樣的阻抗測(cè)量需求 ● 基本精度 ±0.08% ● 頻率范圍 10 µHz～36 MHz ● 阻抗范圍 10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)

詳細(xì)介紹

特點(diǎn)

結(jié)合用途配備豐富的功能！
以DUT特性的設(shè)定，支持高重現(xiàn)性且準(zhǔn)確的測(cè)量。
準(zhǔn)確的評(píng)價(jià)基于實(shí)際使用的操作條件。

電子零件、電子材料可能因測(cè)量頻率及施加的信號(hào)級(jí)別而表現(xiàn)出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發(fā)的頻率依賴性，二極管等半導(dǎo)體器件由于 DC 偏置疊加而產(chǎn)生特性變化。
要評(píng)價(jià)真實(shí)的特性，重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻，在實(shí)際的操作條件下進(jìn)行測(cè)量。

特點(diǎn)

● 掃頻
● 延遲功能
● 標(biāo)記操作

● 測(cè)量條件等的設(shè)定
● 自動(dòng)高密度掃頻
● 順序測(cè)量

● 量程
● 誤差校正
● 圖表顯示

豐富的功能

● 共振點(diǎn)跟蹤測(cè)量
● 相對(duì)介電常數(shù)測(cè)量
● 外部基準(zhǔn)時(shí)鐘

● 等效電路估算
● 相對(duì)導(dǎo)磁率測(cè)量
● 存儲(chǔ)器操作

● 壓電常數(shù)計(jì)算
● 比較器 / 處理器接口

掃頻頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬

AC 振幅掃描

掃頻

DC 偏置掃頻

零頻寬

不變更頻率、AC 振幅和 DC 偏置的參數(shù)，按恒定的條件進(jìn)行測(cè)量，觀察不同時(shí)間的特性變化（橫軸：時(shí)間）

● 也能應(yīng)對(duì)點(diǎn)測(cè)

按恒定的頻率 /AC 振幅 /DC偏置進(jìn)行測(cè)量，以數(shù)值顯示測(cè)量結(jié)果。最多可以設(shè)定 6 個(gè)項(xiàng)目。
與比較器功能組合，可以進(jìn)行篩選及判定是否合格。

生產(chǎn)線內(nèi)的測(cè)量

測(cè)量條件等的設(shè)定

在 1 個(gè)界面內(nèi)直觀地進(jìn)行詳細(xì)設(shè)定

設(shè)定項(xiàng)目（SETTING VIEW）

設(shè)定圖表軸

設(shè)定頻率

量程

自動(dòng)量程

監(jiān)視測(cè)量結(jié)果，同時(shí)自動(dòng)設(shè)定最合適的量程進(jìn)行測(cè)量。
檢測(cè)到超過(guò)量程的外部噪聲或直流分量時(shí)，重新設(shè)定為更大的量程并重新測(cè)量。測(cè)量數(shù)據(jù)的變化大時(shí)啟用。

固定量程

量程固定，因此不會(huì)產(chǎn)生因量程變化引發(fā)的測(cè)量值不連續(xù)（段差）。

延遲功能

如果在掃描過(guò)程中變更了頻率、AC 振幅等掃描參數(shù)，則瞬態(tài)響應(yīng)將導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)誤差。參數(shù)變更后，可以延遲開(kāi)始測(cè)量的時(shí)間。延遲包括“延遲開(kāi)始測(cè)量"和“延遲測(cè)量"，前者在開(kāi)始測(cè)量時(shí)延遲，后者在掃描過(guò)程中每次變更參數(shù)時(shí)延遲。

自動(dòng)高密度掃頻

在掃頻測(cè)量中，本功能限定在測(cè)量數(shù)據(jù)突變的區(qū)間自動(dòng)提高頻率密度進(jìn)行測(cè)量。
在壓電振蕩器、晶體振蕩器等的共振特性測(cè)量中，本功能在相位急劇變化的共振附近的測(cè)量中啟用。

誤差校正

為進(jìn)行準(zhǔn)確的評(píng)價(jià)，需根據(jù)測(cè)量誤差因子進(jìn)行校正。

為進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量，需適當(dāng)校正殘余阻抗、電纜長(zhǎng)度等各種測(cè)量誤差因子。

開(kāi)路校正

減少因殘余導(dǎo)納引起的誤差

短路校正

減少因殘余阻抗引起的誤差

負(fù)載校正

以具有已知值的試樣作為標(biāo)準(zhǔn)阻抗，校正與真值的偏差

端口延長(zhǎng)

使用長(zhǎng)電纜時(shí)，校正因傳輸延遲時(shí)間而產(chǎn)生的相位誤差

電位梯度消除

消除測(cè)量信號(hào)所含的電位波動(dòng)波形的影響。在由于電池等的充放電會(huì)引起電位變化的試樣的測(cè)量中啟用

補(bǔ)償

預(yù)先測(cè)量連接到外部的傳感器、電纜等測(cè)量系統(tǒng)的頻率特性，校正測(cè)量系統(tǒng)的誤差成分

輸入加權(quán)碼

校正探頭的衰減量及前置放大器的增益

自行校準(zhǔn)

校正自身誤差

標(biāo)記操作

本功能用于讀取所顯示的圖表中 X、Y1、Y2 的測(cè)量值。
最多可使用 8 個(gè)標(biāo)記。

Δ標(biāo)記顯示與基準(zhǔn)標(biāo)記（標(biāo)記 1）的差異

ΔTRKG 標(biāo)記

與Δ標(biāo)記同樣顯示差異，移動(dòng)到標(biāo)記 1 時(shí)，保持恒定的掃描值差異，同時(shí)進(jìn)行移動(dòng)

標(biāo)記搜索功能

可自動(dòng)搜索與設(shè)定條件一致的點(diǎn)

順序測(cè)量

本功能預(yù)先設(shè)定多項(xiàng)所需的測(cè)量條件，按照該條件依次進(jìn)行測(cè)量。最多可將掃描范圍分割成 32 部分，各范圍內(nèi)按照不同的測(cè)量條件進(jìn)行測(cè)量。
可高效地測(cè)量因電壓值而使特性發(fā)生變化的多層陶瓷電容器（MLCC）、電感器及變壓器等器件。