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15J測量顯微鏡

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上海彼愛姆光學(xué)儀器制造有限公司

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產(chǎn)品簡介

15J測量顯微鏡一、用途15J測量顯微鏡是光學(xué)計量儀器之一種，它的結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：1.直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑等等

詳細介紹

15J測量顯微鏡

一、用途

15J測量顯微鏡是光學(xué)計量儀器之一種，它的結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：

1.直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑等等。

2.轉(zhuǎn)動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進行角度測量。

3.用作觀察，以比較法檢查工作表面粗糙度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標本，檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。

二、技術(shù)規(guī)格

1.光學(xué)系統(tǒng)規(guī)格

物鏡		目鏡		顯微鏡放大倍數(shù)	工作距離 (mm)	視場直徑(mm)
放大倍數(shù)	焦距 (mm)	放大倍數(shù)	焦距 (mm)
2.5X/0.08	43.40	10X	25.00	25X	58.84	5.6
10X/0.25	17.13			100X	7.81	1.4

2.測量工作臺讀數(shù)裝置主要規(guī)格

X軸移動測量范圍：50mm

Y軸移動測量范圍：13mm

測微器分度值：0.01mm

測量臺轉(zhuǎn)動范圍：不限

測量臺刻度盤分度范圍：0°～360°

測量臺刻度盤之分度值：1°

測量臺刻度盤游讀數(shù)示值：6′

3.測量精度：

儀器示值誤差：±(4+L/15 )um

儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。

注：測量地點溫度變化(20±3)℃

　　L-被測件長度(mm)

4.儀器之主要尺寸：

測量臺與物鏡間之*大距離：80mm

測量工作臺直徑：120mm

三、儀器成套性

序號	名稱	單位	數(shù)量
1	主機	臺	1
2	物鏡2.5×	只	1
3	物鏡10×	只	1
4	產(chǎn)品使用說明書	份	1
5	產(chǎn)品合格證明	份	1
6	產(chǎn)品保修卡	份	1