GB 10592-89 高、 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T10589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T 2423.2-2001 高溫 GB/T 2423.1-2001 低溫 GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗(yàn)方法 Ab GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法 Bb GJB150.4-1986 低溫試驗(yàn) GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn) JIS C60068-2-2-1995 試驗(yàn) B:干熱 JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn) A:低 JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn) A:低溫 JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗(yàn) JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗(yàn) JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗(yàn) MIL-STD-810F-501.4 高溫 MIL-STD883C 方法 1004.2 MIL-STD810 方法 507.2 程序 3 MIL-STD-810F-502.4 低溫 IEC68-2-01_試驗(yàn)方法 A_冷 GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法; GB/T2423.2-2001; GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N; 標(biāo)GJB150.3-86; 標(biāo)GJB150.4-86; 標(biāo)GJB150.5-86; GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn); GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn); GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn); SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式; SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式; 滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化; GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則; GB/T 2423.22-2002溫度變化; QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則; EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。 IEC68-2-02_試驗(yàn)方法 B_干熱 IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷 IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱 |