時(shí)代涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品概述時(shí)代涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》一、時(shí)代涂層測(cè)厚儀功能特點(diǎn) ?? 本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金

詳細(xì)介紹

時(shí)代涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品概述

時(shí)代涂層測(cè)厚儀 是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

一、時(shí)代涂層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)

?? 本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等)。
?? 可使用7 種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
?? 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
?? 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
?? 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
?? 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
?? 具有存貯功能：可存貯495 個(gè)測(cè)量值；
?? 具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
?? 可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分
析；
?? 具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；
?? 具有與PC 機(jī)通訊的功能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC 機(jī)，以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)
一步處理；
?? 具有電源欠壓指示功能；
?? 操作過程有蜂鳴聲提示；
?? 具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
?? 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式

二、時(shí)代涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

測(cè)頭類型		可選，見附表
測(cè)量原理		磁感應(yīng)和電渦流
測(cè)量范圍		探頭決定
低限分辨力		探頭決定
探頭連接方式		分體式導(dǎo)線連接（可更換）
示值誤差	一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	探頭決定
	兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	探頭決定
測(cè)量條件	*小曲率半徑(mm)	探頭決定
	基體*小面積的直徑(mm)	探頭決定
	*小臨界厚度(mm)	探頭決定
溫濕度		0~40℃ 20%RH～90%RH
統(tǒng)計(jì)功能		平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）
工作方式		直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測(cè)量方式		連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）
上下限設(shè)置		有
存儲(chǔ)能力		495 個(gè)測(cè)量值
打印/連接計(jì)算機(jī)		自帶打印機(jī)/能連接電腦
關(guān)機(jī)方式		手動(dòng)和自動(dòng)
電源		1/2鎳氫電池5×1.2V
外形尺寸		270×86×47mm
重量		530g

時(shí)代涂層測(cè)厚儀 可選探頭參數(shù)表

測(cè)頭型號(hào)		F400	F1	F1/90	F10	N1	CN02
工作原理		磁感應(yīng)				電渦流
測(cè)量范圍（um）		0-400	0-1250		0-10000	0-1250(銅上鍍鉻0-40um)	10-200
低限分辨力(um)		0.1	0.1		10	0.1	1
示值誤差	一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[3%H+1]			±[3%H+10]	±[3%H+1.5]	±[3%H+1]
示值誤差	兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[(1～3)%H+0.7]	±[(1～3)%H+1]		±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1.5]	-
測(cè)量條件	*小曲率半徑(mm)	凸 1	凸1.5	平直	10	3	平直
	基體*小面積的直徑(mm)	ф3	ф7	ф7	ф40	ф5	ф7
	*小臨界厚度(mm)	0.2	0.5	0.5	2	0.3	無限制

覆蓋層基體		有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)		非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
覆蓋層基體		覆蓋層厚度不超過100µm	覆蓋層厚度超過100µm	覆蓋層厚度不超過100µm	覆蓋層厚度超過100µm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測(cè)面積的直徑大于30mm	F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm	F1 型測(cè)頭 0～1250µm F10 型測(cè)頭 0～10mm	F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm	F1 型測(cè)頭 0～1250µm F10 型測(cè)頭 0～10mm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測(cè)面積的直徑小于30mm	F400 型測(cè)頭 0～400µm	F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm	F400 型測(cè)頭 0～400µm	F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬	被測(cè)面積的直徑大于5mm	N1 型測(cè)頭 0～1250µm		僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40µm
塑料、印刷線路非金屬基體	被測(cè)面積的直徑大于7mm	-	-	CN02 型測(cè)頭10～200µm