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Sphere-3000光學元件反射率測量儀

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產(chǎn)品簡介

Sphere-3000光學元件反射率測量儀Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率

詳細介紹

Sphere-3000 光學元件反射率測量儀

Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

Sphere3000光學元件反射率測量儀-特點：

Ø         顯微測定微小領(lǐng)域的反射率物鏡對焦于被測物微小區(qū)域（φ60μm）

Ø         CIE顏色測定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等

Ø         檢測速度快高性能探測器，能在幾秒內(nèi)實現(xiàn)重現(xiàn)性高的測定

Ø         消除背面反射光無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率

Sphere3000光學元件反射率測量儀-技術(shù)參數(shù)

型號	Sphere-3000（I型）	Sphere-3000（III型）
檢測范圍	380~800nm	360~1100nm
波長分辨率	1nm	1nm
相對檢測誤差	﹤1%	﹤0.5%
測定方法	與標準物比較測定
被測物再現(xiàn)性	±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm)	±0.1%以下(2σ) (380nm~410nm) ±0.05%以下(2σ) (410nm~1100nm)
單次測量時間	﹤1s
精度	0.3nm
被測物N.A.	0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時)
被測物尺寸	直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) 厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)
被測物測定范圍	約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時)
設(shè)備重量	約15kg（光源內(nèi)置）
設(shè)備尺寸	300(W)×550(D)×570(H)mm
使用環(huán)境	水平且無振動的場所溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無結(jié)露；
操作系統(tǒng)	Windows XP, Windows Vista，Win7
軟件	分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測定
尺寸	480400580mm