天津良益科技股份有限公司
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儀器簡介：電子散斑干涉(ESPI)技術是一種非接觸式全場實時測量技術,因其通用性強、測量精度高、頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點，電子散斑干涉無損檢測技術可以完成位移、應變、表面缺陷和裂紋等多種測試
儀器簡介：
電子散斑干涉( ESPI)技術是一種非接觸式全場實時測量技術,因其通用性強、測量精度高、頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點 ，電子散斑干涉無損檢測技術可以完成位移、應變、表面缺陷和裂紋等多種測試。電子散斑干涉實驗系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者-散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉技術相結合的一種現代光測技術。激光的高相干性使散斑現象顯而易見，采用CCD攝像機，使之可采用計算機處理數據和圖像。電子散斑干涉應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。
實驗內容：
1、了解電子散斑干涉原理
2、掌握干涉光路及圖像處理軟件
3、使用本系統(tǒng)來測量三維離面位移
主要配置和參數：
1、激光器：氦氖激光器，632.8nm,TEM00，>1.5mW,發(fā)散角<5mrad
2、加熱用電源：電壓可調范圍：0V-110V
3、圖像采集卡：最小分辨率：640*480*16
4、分束鏡：規(guī)格：60mm*50mm*6.3mm
5、擴束鏡：f=4.5mm
6、二維平移底座：上下前后二維位置可調
7、待測物體：受熱變形和受力變形各一件
8、CCD攝像機：PAL制，電源DC12V,1000mA
9、其他：通用底座，干板架，白屏，反射鏡等
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