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FT型熱像儀核心及IR FPA測試系統(tǒng)

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更新時間：2023-12-11 15:07:14瀏覽次數(shù)：156次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品介紹FT測試系統(tǒng)的FT-N配置（噪聲/響應(yīng)參數(shù)的測量）FT測試系統(tǒng)FT-I配置（成像質(zhì)量參數(shù)測量）FT測試系統(tǒng)的FT-S配置（光譜參數(shù)測量）紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

FT測試系統(tǒng)的FT-N配置（噪聲/響應(yīng)參數(shù)的測量）

FT測試系統(tǒng)FT-I配置（成像質(zhì)量參數(shù)測量）

FT測試系統(tǒng)的FT-S配置（光譜參數(shù)測量）

紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測器電路（核心）的設(shè)計是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因為紅外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限，紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識。因此，測量紅外焦平面陣列性能的測量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。

FT是一個完備的測試系統(tǒng)，它產(chǎn)生精確控制時空分布的紅外，輻射到紅外焦平面的輸入平面來控制被測紅外焦平面；最后對被測紅外焦平面陣列（或熱像儀核心）進(jìn)行表征所需的輸出信號進(jìn)行半自動分析。

該系統(tǒng)能夠測量熱像儀核心和紅外焦平面陣列的所有重要參數(shù)（噪聲/靈敏度、成像質(zhì)量和光譜參數(shù)）?？蓽y試不同光譜波段（LWIR或MWIR）、冷卻或非冷卻的探測器。FT系統(tǒng)可以在一系列版本中提供，并針對不同測試范圍的熱成像核心和紅外焦平面陣列進(jìn)行優(yōu)化，還可以選擇能夠測試完整的熱像儀的超擴(kuò)展版本。

FT測量系統(tǒng)一個模塊化的系統(tǒng)，可以方便快速地配置成三個半獨立的測量工作站：FT-N，F(xiàn)T-I，和FT-S。

1.FT-N——噪聲和響應(yīng)參數(shù)的測量；

2.FT-I——成像質(zhì)量參數(shù)的測量

3.FT-S——光譜參數(shù)測量。

產(chǎn)品參數(shù)

紅外焦平面陣列的參數(shù)可分為三大類：

噪聲/靈敏度參數(shù)：

1.標(biāo)準(zhǔn)噪聲特性：NETD（高頻時間噪聲）、FPN（高頻空間噪聲）、不均勻性（低頻空間噪聲），

2.響應(yīng)參數(shù)：SiTF，線性，動態(tài)范圍，飽和水平，

3.高級噪聲參數(shù)：3D噪聲模型、NPSD、1/f噪聲、壞像素數(shù)和壞像素定位，

4.D*（歸一化探測率）和相關(guān)參數(shù)可選（需要知道FPA的積分時間）。

圖像質(zhì)量參數(shù)：

1.調(diào)制傳遞函數(shù)MTF，

2.能量損耗（PVF），

3.串?dāng)_。

光譜參數(shù)：

1. 相對光譜靈敏度（平均值、偏差、信號相關(guān)性）

FT測試系統(tǒng)可以以不同版本、不同測試能力和不同價格水平交付。

可使用下表所示的代碼精確確定版本。

	A	B
編號	測試能力	測試完整的熱像儀
1	噪聲/相應(yīng)參數(shù)	否
2	成像參數(shù)	是
3	光譜參數(shù)
4	噪聲相應(yīng)和成像參數(shù)
5	所有參數(shù)