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WT-1200I/L 少子壽命測試儀

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更新時間：2023-12-07 13:27:08瀏覽次數(shù)：139次

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產(chǎn)品介紹WT-1200IL是一項基于渦流光電導(dǎo)衰減的體壽命單點(diǎn)測試技術(shù)，主要針對不加鈍化的硅棒和硅塊

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

WT-1200IL是一項基于渦流光電導(dǎo)衰減的體壽命單點(diǎn)測試技術(shù)，主要針對不加鈍化的硅棒和硅塊。

優(yōu)勢&總體要求

a) 快速無損檢測

b) 結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便

c) 使用1064nm 紅外光源作為激發(fā)源

d) 有效排除表面復(fù)合的影響

e) 與表面鈍化樣品的μ-PCD有良好相關(guān)性

f) 適合高壽命應(yīng)用場合

g) 的壽命模型以彌補(bǔ)擴(kuò)散壽命損失

h) 軟件具備靈活的校準(zhǔn)功能，便于對測量結(jié)果進(jìn)行必要的調(diào)整

i) 在測量原生晶棒斷面和測量鈍化工藝處理后的樣品結(jié)果之間保持良好的一致性

j) 壽命測試結(jié)果符合基于氧缺陷（頂部）和金屬缺陷影響的硅棒理論壽命衰減趨勢

以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，紡織服裝機(jī)械網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。溫馨提示：為規(guī)避購買風(fēng)險，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。

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WT-1200IL是一項基于渦流光電導(dǎo)衰減的體壽命單點(diǎn)測試技術(shù)，主要針對不加鈍化的硅棒和硅塊。

優(yōu)勢&總體要求

a) 快速無損檢測

b) 結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便

c) 使用1064nm 紅外光源作為激發(fā)源

d) 有效排除表面復(fù)合的影響

e) 與表面鈍化樣品的μ-PCD有良好相關(guān)性

f) 適合高壽命應(yīng)用場合

g) 的壽命模型以彌補(bǔ)擴(kuò)散壽命損失

h) 軟件具備靈活的校準(zhǔn)功能，便于對測量結(jié)果進(jìn)行必要的調(diào)整

i) 在測量原生晶棒斷面和測量鈍化工藝處理后的樣品結(jié)果之間保持良好的一致性

j) 壽命測試結(jié)果符合基于氧缺陷（頂部）和金屬缺陷影響的硅棒理論壽命衰減趨勢

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WT-1200IL是一項基于渦流光電導(dǎo)衰減的體壽命單點(diǎn)測試技術(shù)，主要針對不加鈍化的硅棒和硅塊。

優(yōu)勢&總體要求

a) 快速無損檢測

b) 結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便

c) 使用1064nm 紅外光源作為激發(fā)源

d) 有效排除表面復(fù)合的影響

e) 與表面鈍化樣品的μ-PCD有良好相關(guān)性

f) 適合高壽命應(yīng)用場合

g) 的壽命模型以彌補(bǔ)擴(kuò)散壽命損失

h) 軟件具備靈活的校準(zhǔn)功能，便于對測量結(jié)果進(jìn)行必要的調(diào)整

i) 在測量原生晶棒斷面和測量鈍化工藝處理后的樣品結(jié)果之間保持良好的一致性

j) 壽命測試結(jié)果符合基于氧缺陷（頂部）和金屬缺陷影響的硅棒理論壽命衰減趨勢

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WT-1200IL是一項基于渦流光電導(dǎo)衰減的體壽命單點(diǎn)測試技術(shù)，主要針對不加鈍化的硅棒和硅塊。

b) 結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便

h) 軟件具備靈活的校準(zhǔn)功能，便于對測量結(jié)果進(jìn)行必要的調(diào)整