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平行平晶0-25

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上海米厘特精密儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

平行平晶0-25用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性

詳細(xì)介紹

平行平晶0-25

產(chǎn)品名稱：平行平晶

產(chǎn)品型號：0-25mm；25-50mm；50-75mm；75-100mm(每組四塊)

簡介

具有兩個(gè)（或個(gè)）光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面，它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋（見激光測長技術(shù)）。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗(yàn)量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個(gè)光學(xué)測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學(xué)測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度般為200毫米。

平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性。

平行平晶：用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。

具體規(guī)格：

每組平行平晶共四塊，分四個(gè)尺寸系列組
測量面上平面度偏差： <0.1μm>
平面度局部偏差：　 ?>0.03μm
測量面平行度誤差：?組Ⅰ系列允差值：0.06μm
??????????????????????????? ? 組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
???????????????????????????? ?組Ⅳ系列允差值：0.1μm