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太赫茲時(shí)域光譜儀

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產(chǎn)品簡介

石墨烯和2D材料表征Onyx是市場上設(shè)計(jì)用于提供石墨烯、薄膜和其他2D材料的全區(qū)域非破壞性表征的系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

石墨烯和2D材料表征

Onyx是市場上設(shè)計(jì)用于提供石墨烯、薄膜和其他2D材料的全區(qū)域非破壞性表征的系統(tǒng)。

Onyx彌補(bǔ)宏觀工具和納米工具之間的空白，可以檢測從0.5 mm²到大面積（m²）的特征，從而增強(qiáng)研究材料的工業(yè)化水平。與其他大面積測試方法（例如四探針方法）相比，Onyx能夠測量樣品質(zhì)量的空間分布。與顯微方法（例如拉曼，SEM和TEM）不同，可以數(shù)百微米的空間分辨率快速表征大面積的樣品。