ST2000光學(xué)薄膜測厚儀
產(chǎn)品簡介：
使用K-MAC公司的光譜系統(tǒng)，可以很快、很容易地測量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系數(shù)。簡單地將K-MAC系統(tǒng)插入您電腦的USB口，并開始進(jìn)行測量。整個系統(tǒng)只需要幾分鐘來搭建，而測量過程也僅需要基礎(chǔ)的電腦知識。
產(chǎn)品特征：
1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量 3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 適用于大學(xué),研究室等
| 尺寸 | 190 x 265 x 316 mm | | 重量 | 12Kg | | 類型 | 手動的 | | 測量樣本大小 | ≤ 4" | | 測量方法 | 非接觸式 | | 測量原理 | 反射計 | | 特征 | 測量迅速，操作簡單
非接觸式，非破壞方式
優(yōu)良的重復(fù)性和再現(xiàn)性
用戶易操作界面
每個影像打印和數(shù)據(jù)保存功能
可測量多達(dá)3層
可背面反射 |
| 活動范圍 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離) | | 測量范圍 | 200?~ 35?(根據(jù)膜的類型) | | 光斑尺寸 | 20? 典型值 | | 測量速度 | 1~2 sec./site | | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 聚合體: PVA, PET, PP, PR ...
電解質(zhì):
半導(dǎo)體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... | | 選擇 | 參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST) | | 探頭類型 | 三目探頭 | | nosepiece | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt | | 照明類型 | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer | |
GM1350 ACS55001 GM1150A ACS550011 GM1150 ACS550011 ACS550011 ACS550011 ACS550010 ACS550010 ACS550010 ACS550010 GM900 ACS GM700 RK5000 GM550 GM300 GM100DU GM100D ACS5500106 GM60D ACS5500105 ACS5500104 GM40D ACS5500103 RK2511 ACS5100124 ACS510011 ACS5100 AT520s ACS51001 ACS51001 ACS5100108 AT770 AL05P ACS510010 AL05N ACS510010 AL05D AT1653 AL05R ACS5100103 RK2681 ACS510010 ACS510010 RK2681A ACS510010 RK2675A 0.5KW ACS5100101 ACS5100109 ACS510010
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